建議采用多節(jié)點(diǎn)集群規(guī)劃。
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外顯子組測(cè)序是利用特制的探針對(duì)研究感興趣的編碼區(qū)域DNA或某段特定序列進(jìn)行捕獲,富集后進(jìn)行高通量測(cè)序的基因組分析方法。該方法能夠獲得指定外顯子目標(biāo)區(qū)域的遺傳信息,極大的提高了基因組中外顯子區(qū)域的研究效率,顯著降低了研究成本。主要用于識(shí)別和研究與疾病、種群進(jìn)化相關(guān)的編碼區(qū)域內(nèi)的結(jié)構(gòu)變異。結(jié)合成熟的公共的外顯子數(shù)據(jù),有利于更好地注釋變異結(jié)構(gòu)之間的關(guān)聯(lián)和致病機(jī)理。
硬件需求
外顯子組樣本量較多,要求有執(zhí)行并行任務(wù)能力的計(jì)算機(jī)硬件資源,因此建議采用多節(jié)點(diǎn)集群規(guī)劃。
推薦產(chǎn)品
SeqKit
SeqStation
解決方案概要
測(cè)序數(shù)據(jù)質(zhì)量控制 | FastQC 、PringSeq |
測(cè)序數(shù)據(jù)預(yù)處理 | FASTX-Toolkit 、Cutadapt |
與參考序列比對(duì) | BWA、Bowtie |
變異檢測(cè) | GATK、Samtools、SOAPsnp、PennCNV |
變異注釋 | VCFtools、ANNOVAR、SnpEff、VEP(Ensembl) |