對(duì)于所有需要光源的檢測(cè)模式,微孔板讀板機(jī)通常會(huì)顯示“閃爍次數(shù)”的設(shè)置項(xiàng)。這包括熒光強(qiáng)度和吸光度測(cè)量。然而,這種設(shè)置與發(fā)光無(wú)關(guān),因?yàn)檫@種類型的測(cè)量不需要激發(fā)光。
但是閃光次數(shù)如何影響測(cè)量?在哪些情況下,低閃光次數(shù)或高閃光次數(shù)有益?
圖1:基于熒光的分析的光源和檢測(cè)系統(tǒng)
你知道嗎?
飛行模式是測(cè)量微孔板的最快方法。與上面顯示的一次閃光測(cè)量不同,當(dāng)載板系統(tǒng)連續(xù)運(yùn)動(dòng)時(shí),飛行模式每孔閃光一次,最快讀板時(shí)間只需14秒。
你知道嗎?
如果數(shù)據(jù)點(diǎn)采集之間的時(shí)間間隔太短,BMG LABTECH控制軟件會(huì)將其調(diào)整為盡可能小的間隔設(shè)置,以適應(yīng)所選的閃光次數(shù)。
您的微孔板讀板機(jī)將在每次測(cè)量中至少用1個(gè)閃光激發(fā)樣本、檢測(cè)發(fā)射光并繼續(xù)下一個(gè)樣本。如果您在設(shè)置中選擇了1個(gè)以上的閃光,則檢測(cè)到的發(fā)射光信號(hào)為這幾次檢測(cè)的平均值。盡管先進(jìn)的讀板機(jī)具有較高的閃光頻率,但儀器測(cè)量樣本所需的時(shí)間會(huì)隨著閃光次數(shù)的增加而增加。這也影響了讀板所需的總時(shí)間,這在以數(shù)據(jù)點(diǎn)采集之間的最小時(shí)間間隔執(zhí)行快速動(dòng)力學(xué)時(shí)尤其關(guān)鍵。因此,在進(jìn)行動(dòng)力學(xué)實(shí)驗(yàn)時(shí),應(yīng)考慮設(shè)定的閃光次數(shù),并將其調(diào)整到合適的水平。
圖2:閃爍次數(shù)對(duì)測(cè)量時(shí)間的影響
本案例將96孔板和384孔板所需的總測(cè)量時(shí)間與所用閃爍次數(shù)進(jìn)行比較。測(cè)量時(shí)間隨著每次測(cè)量使用的閃爍次數(shù)而增加,而與使用的微孔板格式無(wú)關(guān)。然而,在較小的板格式(如384和1536孔板)中有更高數(shù)量的測(cè)量樣本時(shí),總測(cè)量時(shí)間相對(duì)于所用閃爍次數(shù)的增加將更明顯(例如,96孔中50和200次閃爍之間增加2倍,而384孔板增加3倍)。請(qǐng)注意,測(cè)量時(shí)間也因讀板機(jī)型號(hào)和制造商而異。
閃光的總次數(shù)也會(huì)影響光源的激發(fā)強(qiáng)度。用于BMG LABTECH微孔板讀板機(jī)的氙光燈具有非常長(zhǎng)的壽命。即使在100000000次閃光之后,它們?nèi)匀槐3制浒l(fā)射強(qiáng)度的50%。
你知道嗎?
BMG LABTECH的線上文檔庫(kù)包含各種各樣的應(yīng)用說(shuō)明,這些說(shuō)明不僅突出了我們的微孔板讀板機(jī)在常用分析上的性能,還提供了讀板機(jī)設(shè)置的建議,例如閃爍次數(shù)。
如何調(diào)整BMG LABTECH讀板機(jī)上的閃爍次數(shù)?
BMG LABTECH讀板機(jī)上測(cè)試程序的閃爍次數(shù)設(shè)置可以在“管理程序”選項(xiàng)卡下進(jìn)行調(diào)整。只需打開(kāi)要修改或創(chuàng)建新程序即可,F(xiàn)在,您可以將“速度和精度”刻度上的滑塊移動(dòng)到三個(gè)位置之一(快速、中間和精確)。這樣,將自動(dòng)選擇推薦的預(yù)設(shè)值。或者,點(diǎn)擊“高級(jí)”按鈕手動(dòng)調(diào)整閃爍次數(shù),范圍從0到200。
那么,為什么你不能總是使用盡可能少的閃光燈進(jìn)行測(cè)量,并盡可能縮短測(cè)量時(shí)間呢?答案是,這會(huì)影響數(shù)據(jù)的可變性!微孔板讀板機(jī)在每次附加閃光之后獲取所產(chǎn)生的發(fā)射信號(hào)。通過(guò)多次閃爍檢測(cè)樣本,微孔板讀板機(jī)可以獲得每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的平均值。這提高了數(shù)據(jù)穩(wěn)定性,并減少了由每次閃光間變化引起的可變性。特別是,低濃度樣品和空白樣品受益于更高的閃光次數(shù),因?yàn)闇p少的可變性有助于減少背景噪聲(圖3)。
圖3:熒光基團(tuán)標(biāo)準(zhǔn)品(0.001至1 nM)相對(duì)于所用閃光次數(shù)的%CV值
該示例強(qiáng)調(diào)了閃光次數(shù)對(duì)熒光基團(tuán)標(biāo)準(zhǔn)系列的變異系數(shù)(%CV)值的影響。雖然低至0.1nM的高熒光基團(tuán)濃度的%CV保持在1-2%的低水平,但較低濃度的熒光基團(tuán)標(biāo)準(zhǔn)樣品和空白樣品顯著變高。通過(guò)增加閃爍次數(shù),可以顯著降低低濃度標(biāo)準(zhǔn)品和空白品的%CV。使用10-20次或更高的閃光次數(shù)可以使得所有測(cè)試樣品的%CV值降低到約為3%或更低。
通常不建議每次測(cè)量都使用盡可能多的閃爍次數(shù)(例如200次)。在某一閃光數(shù)之后,它只會(huì)人為地增加測(cè)量時(shí)間,而不會(huì)進(jìn)一步提高數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外,它還會(huì)縮短光源的使用壽命。對(duì)于許多測(cè)定,10-50次閃光就足夠了。更高的設(shè)置可能有利于特定的應(yīng)用程序。
結(jié)論
為您的分析選擇適當(dāng)數(shù)量的閃光次數(shù)可確保數(shù)據(jù)的可靠性和準(zhǔn)確性。它不僅有助于保持較低的變異系數(shù)(%CV)和標(biāo)準(zhǔn)偏差,而且還可以減少檢測(cè)時(shí)間,同時(shí)延長(zhǎng)微孔板讀板機(jī)光源的壽命。
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