436 次TOF-SIMS在聚合物薄膜和涂層的光譜分析 2024-10-10
飛行時間二次離子質譜( Time of FlightSecondary Ion Mass Spectrometry ,TOF-SIMS)是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面,使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發(fā)生濺射產生二次粒子,
585 次TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀離子源的選擇 2024-8-29
TOF-SIMS(TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry)飛行時間二次離子質譜儀的基本組件包括一次離子束,和用于樣品深度剖析的離子束。主離子束被脈沖化以供飛行時間質譜儀進行分析使用。