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ICP-OES在金屬鋁純度的檢測應(yīng)用

瀏覽次數(shù):1905 發(fā)布日期:2020-11-2  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)
用途廣泛的金屬鋁,如何準(zhǔn)確知曉它的純度?
 
鋁(Al)是應(yīng)用領(lǐng)域廣泛的常用金屬,如運(yùn)輸、建筑、電氣電子和消費(fèi)型產(chǎn)品等。這種多樣化且普及性的應(yīng)用歸功于Al的獨(dú)有特性:重量輕、強(qiáng)度高、耐腐蝕、無毒、高導(dǎo)熱性和導(dǎo)電性,以及易于機(jī)加工、成型和拉伸等。通過將Al與其它金屬結(jié)合制成鋁合金,可進(jìn)一步提高其多功能性。此外,Al容易循環(huán)利用而不會影響其特性。
目前市場上有多種等級的Al可供使用,以適應(yīng)其多樣化和普及性的應(yīng)用。倫敦金屬交易所(LME)列出了兩種常用鋁純度的規(guī)格:99.5%和99.7%,每種規(guī)格均指定了最多六種無機(jī)雜質(zhì)。由于電感耦合等離子光譜技術(shù)(ICP-OES)能夠輕松處理高基質(zhì)樣品且操作簡便,因而成為測定鋁中雜質(zhì)元素的最佳選擇。
珀金埃爾默Avio® 系列ICP-OES是進(jìn)行此類檢測實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。

NO.1
其光學(xué)設(shè)計(jì)提供出色的光通量,這對在較短的分析時(shí)間內(nèi)要測量較低的濃度非常重要。

NO.2
使用電荷耦合檢測器(CCD),可同時(shí)提供背景和分析物測量,這在進(jìn)行金屬基質(zhì)類樣品分析時(shí)非常重要。

本文使用Avio 200 ICP-OES測定LME規(guī)格要求的鋁中的雜質(zhì)元素,通過極短的測量讀取時(shí)間和不足 1 分鐘的單個樣品檢測時(shí)間,輕松完成滿足檢測限要求的檢測。為防止樣品于接口處沉積而做的優(yōu)化設(shè)計(jì),保證方法在至少4個小時(shí)內(nèi)保持穩(wěn)定。
欲詳細(xì)了解Avio 200 ICP-OES是如何根據(jù)LME規(guī)格要求在測定金屬鋁錠中的雜質(zhì)元素中體現(xiàn)其優(yōu)越性,掃描下方二維碼即刻獲取《按照倫敦金屬交易所指南使用Avio 200 ICP-OES分析鋁錠中的雜質(zhì)元素》及《Avio 200電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀》產(chǎn)品手冊。
 
 
來源:瑞孚迪(Revvity)
聯(lián)系電話:021-60645803
E-mail:gc.marcom@revvity.com

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