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直接分析法和離子淌度TOF MS在環(huán)境分析中的適用性研究

瀏覽次數(shù):2332 發(fā)布日期:2014-4-15  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)

Michael McCullagh and Ramesh Rao
沃特世公司(英國曼徹斯特)

簡介
自第一臺市售離子淌度質(zhì)譜儀(SYNAPT HDMS,沃特世公司)面世以來,人們對離子淌度分離的關(guān)注持續(xù)升溫,該質(zhì)譜儀以行波方式進(jìn)行離子淌度分離(IMS)。隨著技術(shù)的進(jìn)步,Waters® SYNAPT G2-S引進(jìn)了改良的檢測系統(tǒng),從而提高了離子淌度分離度,改善了檢測靈敏度(StepWave)。各方面技術(shù)的不斷進(jìn)步使得分析化學(xué)家們可以利用離子淌度光譜法結(jié)合質(zhì)譜法來應(yīng)對他們所面臨的分析難題。

本應(yīng)用紀(jì)要對直接分析法(DA)結(jié)合IMS/MS的應(yīng)用進(jìn)行了研究,其中目標(biāo)樣品以直接注入的方式進(jìn)樣并展示出了IMS的優(yōu)勢。離子淌度可與多種直接分析技術(shù)相結(jié)合,例如ASAP、DART和DESI,以通過運用離子淌度技術(shù)實現(xiàn)分離。

沃特世解決方案
SYNAPT® G2-S質(zhì)譜儀
High Definition Mass Spectrometry™(HDMS™)
StepWave™離子傳輸設(shè)備
DriftScope™淌度軟件

應(yīng)用優(yōu)勢
■ 將直接分析法與離子淌度產(chǎn)生的正交分離相結(jié)合可拓展直接分析技術(shù)的適用范圍。
■ 無需采用色譜法即可實現(xiàn)與基質(zhì)干擾物的分離。
■ 常規(guī)質(zhì)量測量誤差<2 ppm,極大地提高了元素分配組成的正確性和結(jié)構(gòu)解析數(shù)據(jù)的可靠性。
■ 利用離子淌度技術(shù)分離同分異構(gòu)體,并且達(dá)到淌度分離后可生成相應(yīng)的單個MS譜圖和MS/MS譜圖。
■ CO2作為遷移室氣體能夠提高離子淌度分離度。

下載完整應(yīng)用紀(jì)要請點擊:

來源:沃特世科技(上海)有限公司
聯(lián)系電話:800(400)8202676 (免費電話支持專線)
E-mail:Jackie_qian@waters.com

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