蔡司掃描電鏡關(guān)聯(lián)定位、自動成像和量化分析解決方案
瀏覽次數(shù):2205 發(fā)布日期:2021-11-19
來源:蔡司
在使用掃描電鏡的過程中,
您是否總是遭遇如下問題:
1. 在不同設(shè)備間切換樣品時總需耗費(fèi)大量時間重新定位感興趣區(qū)域
2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱,需要頻繁切換成像參數(shù),調(diào)整像散聚焦
3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發(fā)愁
針對以上的困擾和需求,蔡司對掃描電鏡進(jìn)行了全方位武裝,特別推出
智能電鏡解決方案,解決以上提到的所有問題,最大程度確保您日常檢測和分析工作的順暢與高效。
01 關(guān)聯(lián)定位分析
蔡司Connect模塊輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)顯微鏡到掃描電鏡的橋接,快速實(shí)現(xiàn)樣品在不同設(shè)備間的重新定位,還能統(tǒng)一管理關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù)和信息
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關(guān)聯(lián)定位:通過關(guān)聯(lián)樣品臺實(shí)現(xiàn)樣品在不同顯微鏡設(shè)備之間自動關(guān)聯(lián)重定位,大幅縮減操作用時
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數(shù)據(jù)疊加:自由疊加來自手機(jī),光學(xué)顯微鏡,掃描電鏡的信息以及相關(guān)能譜信息
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統(tǒng)一管理:管理來自不同關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù),輸出不同信息疊加圖像和視頻
▲ PCB電路板的關(guān)聯(lián)顯微分析(光鏡,電鏡,能譜信息),左:宏觀圖像;右:感興趣位置局部放大
▲芯片關(guān)聯(lián)顯微分析視頻(光鏡,共聚焦,電鏡)
02 自動成像
蔡司SmartSEM Touch定制軟件,全面兼顧參數(shù)設(shè)置,成像,自動化拼圖,圖像瀏覽,實(shí)現(xiàn)智能高效的掃描電鏡成像
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向?qū)讲僮髁鞒?/strong>,界面簡潔,操作簡單
✓ 根據(jù)樣品智能匹配成像參數(shù),實(shí)現(xiàn)自動聚焦
✓ 簡單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接
▲簡潔的SmartSEM Touch操作界面
03 量化分析
蔡司ZEN模塊實(shí)現(xiàn)從電鏡圖像獲取,圖像處理,圖像分割,自動測量到報告生成的整個量化分析流程
✓ 一鍵獲取掃描電鏡圖像,向?qū)降姆治龉ぷ髁鞒?/strong>,毫無經(jīng)驗(yàn)的新手也可輕松掌握
✓ 基于機(jī)器學(xué)習(xí)的ZEN Intellesis模塊輕松實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)閾值方法難以達(dá)成的圖像處理需求
✓ 豐富的測量功能,如顆粒統(tǒng)計(jì)分析,孔隙率,含量百分比,層厚測量,晶粒度評級等
▲量化分析界面-二值化分割
▲金屬焊接位置孔隙大小分析及含量分析
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▲滿足多種測量需求——高級測量 |
▲顆粒分析 |
▲晶粒度評級 |
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▲含量百分比 |
▲層厚測量 |
▲孔隙率分析 |
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