作者:
Ed McCurdy,安捷倫 ICP-MS 市場專家
Glenn Woods,安捷倫 ICP-MS 應(yīng)用專家
Noriyuki Yamada,安捷倫 ICP-MS 研發(fā)專家
安捷倫科技在 2012 年 1 月世界上首款電感耦合等離子體串聯(lián)質(zhì)譜儀 8800 ICP-MS/MS。本文作為后續(xù)跟蹤報道,將 8800 ICP-MS/MS 的性能與現(xiàn)有四極桿 ICP-MS進行了對比,還將詳述該串聯(lián)質(zhì)譜儀 (MS) 的硬件及其 MS/MS 模式獨有的分析優(yōu)勢。
圖 1. 安捷倫 8800 ICP-MS/MS 示意圖。()
ICP 三重串聯(lián)四極桿實現(xiàn) MS/MS 分析
8800 串聯(lián)質(zhì)譜儀配置兩個四極桿:第一個四極桿 (Q1) 位于碰撞/反應(yīng)池之前, Q1 作為第一級質(zhì)量過濾器(MS/MS 模式),將剔除目標(biāo)分析離子以外的所有離子。因此,MS/MS 模式能夠確保進入碰撞/反應(yīng)池 (CRC) 的離子均在控制之中并且不因樣品基體的變化而受影響。MS/MS 提供了全新的途徑,能夠通過化學(xué)反應(yīng)消除 ICP-MS 中的質(zhì)譜干擾,并確;|(zhì)的變化或其他分析元素均不會影響目標(biāo)分析物的測定。
對于配備 CRC 的傳統(tǒng)四極桿 ICP-MS (ICP-QMS),樣品在進入反應(yīng)池之前無法進行質(zhì)量過濾,因此樣品中的所有離子都會進入反應(yīng)池。在測定不同基體的樣品時,由于基質(zhì)引起的多原子離子會對待測離子產(chǎn)生新的干擾。即使樣品基質(zhì)經(jīng)過良好的處理且能夠保持一致(如采用高純半導(dǎo)體級試劑),共存分析物的含量也可能會發(fā)生變化,這將會影響傳統(tǒng) ICP-QMS 反應(yīng)池中形成的多原子離子。ICP-MS/MS 將通過 MS/MS 模式消除因共存分析物含量變化和可變基質(zhì)造成的結(jié)果差異。
圖 2. 傳統(tǒng)的 ICP-QMS 根據(jù)測定反應(yīng)池中形成的多原子離子 TiO+ 來計算 Ti的含量,結(jié)果與理論同位素豐度完全一致。()
圖 3. 10 ppb 的 Ni(藍(lán)色)、Cu(綠色)和 Zn(粉色)條件下,Ti (1 ppb) 的 ICP-QMS 譜圖。其中所有的 TiO+ 多原子離子都與 Ni+、Cu+ 或 Zn+ 發(fā)生重疊。()
圖 4. 10 ppb 的 Ni(藍(lán)色)、Cu(綠色)和 Zn(粉色)條件下,使用安捷倫 8800 ICP-MS/MS 在 MS/MS 模式所得 Ti (1 ppb) 的譜圖。(
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使用 ICP-MS/MS 在 MS/MS 模式下可靠地測定反應(yīng)池中形成的子離子
在 8800 ICP-MS/MS 的反應(yīng)池中,可采用兩種不同的反應(yīng)模式分離分析物與干擾離子:
- 如果目標(biāo)分析物與選定的反應(yīng)池氣體不發(fā)生反應(yīng)而干擾離子可與反應(yīng)池氣體反應(yīng),則可以通過反應(yīng)中和干擾離子或使之形成新的質(zhì)量數(shù)離子,使待測分析物保持其初始質(zhì)量數(shù),從而實現(xiàn)干擾的排除。
- 如果目標(biāo)分析物可與選定的反應(yīng)池氣體發(fā)生反應(yīng)而干擾離子不與反應(yīng)池氣體反應(yīng),則可通過形成新的分析物多原子離子,使其質(zhì)量數(shù)能夠避開干擾物的初始質(zhì)量數(shù),從而使分析物免受干擾。
這些反應(yīng)模式方法也可用于傳統(tǒng)的四極桿 ICP-QMS,圖 2 所示為使用氧氣作為反應(yīng)池氣體測定 1 ppb 單元素鈦標(biāo)準(zhǔn)品的結(jié)果。在反應(yīng)池中,Ti 將與 O2 反應(yīng)生成 TiO+,可以通過測定多原子離子 TiO+ 的含量來定量 Ti。對于普通 TiO+,在質(zhì)量數(shù) 62、63、64、65 和 66 處進行測量;對于由 Ti 同位素生成的 TiO+,則在質(zhì)量數(shù) 46、47、48、49 和 50 處進行測量。TiO+ 的峰型分布與 Ti同位素的理論豐度一致。
但是,圖 3 中的重疊譜圖說明了使用傳統(tǒng) ICP-QMS 進行該分析時面臨的問題:多原子離子 TiO+ 受到共存分析物 Ni、Cu 和 Zn(濃度均為 10 ppb)同位素的干擾。Ni、Cu 和 Zn存在的天然質(zhì)量數(shù)分別為 62 和 64 (Ni)、63 和 65 (Cu) 以及 64 和 66 (Zn) 的同位素,使用帶反應(yīng)池的 ICP-QMS 進行測量時,它們會共同疊加到所有的多原子離子Ti16O+ 上。
相比之下,使用安捷倫 8800 ICP-MS/MS 在 MS/MS 模式下進行測量時,Q1 將剔除目標(biāo) Ti+ 離子以外的所有質(zhì)量數(shù)的離子,確保測量多原子離子 TiO+ 時不會與其他基質(zhì)或分析物元素發(fā)生疊加。圖 4 所示疊加譜圖的樣品基質(zhì)與 圖 3 相同,但圖 4 采用的是 8800 的 MS/MS 測量模式。所有樣品都獲得了一致的 TiO+ 峰型分布(符合 Ti 同位素的理論豐度),此結(jié)果證實使用 8800 在 MS/MS 模式下測量 Ti 時,即使有共存分析物 Ni、Cu 和 Zn,也可獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。
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