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澳優(yōu)啟航TEM透射電鏡材料樣品制備介紹

瀏覽次數(shù):281 發(fā)布日期:2024-11-25  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)
一、概述
 
由于電子束的穿透能力比較低(散射能力強(qiáng)),因此用于TEM分析的樣品厚度要非常薄,根據(jù)樣品的原子序數(shù)大小不同,一般在10~200nm之間。要制備這樣薄的樣品必須通過一些特殊的方法。根據(jù)原始樣品的不同形態(tài),TEM樣品可分為間接制樣和直接制樣。  
要求: 
(1) TEM應(yīng)用的深度和廣度一定程度上取決于試樣制備技術(shù)。 
(2)供TEM分析的樣品必須對(duì)電子束是透明的,通常樣品觀察區(qū)域的厚度以控制在約100~200nm為宜,對(duì)于高分辨TEM樣品要求厚度在5~10nm。
 
(3)所制得的樣品還必須具有代表性以真實(shí)反映所分析材料的某些特征。因此,樣品制備時(shí)不可影響這些特征,如已產(chǎn)生影響則必須知道影響的方式和程度。
 
二、間接樣品(復(fù)型)的制備
 
復(fù)型就是表面形貌的復(fù)制(其原理與偵破案件時(shí)用的石膏復(fù)制罪犯鞋底花紋相似)。通過復(fù)型制備出來的樣品是真實(shí)樣品表面形貌組織結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)的薄膜復(fù)制品。 
 
對(duì)復(fù)型材料的主要要求: 
①復(fù)型材料本身必須是“無結(jié)構(gòu)”或非晶態(tài)的;
②有足夠的強(qiáng)度和剛度,良好的導(dǎo)電、導(dǎo)熱和耐電子束轟擊性能。 
③復(fù)型材料的分子尺寸應(yīng)盡量小,以利于提高復(fù)型的分辨率,更深入地揭示表面形貌的細(xì)節(jié)特征。
 
常用的復(fù)型材料是對(duì)電子束透明的薄膜——非晶碳膜、各種塑料薄膜和氧化物薄膜)。
 
在電鏡中易起變化的樣品和難以制成薄膜的試樣采用此方法.
 
表面顯微組織浮雕的復(fù)型膜,只能進(jìn)行形貌觀察和研究,不能研究試樣的成分分布和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
 
復(fù)型的種類
按復(fù)型的制備方法,復(fù)型主要分為:
 一級(jí)復(fù)型
 二級(jí)復(fù)型
萃取復(fù)型(半直接樣品)
 
一級(jí)復(fù)型
 
一級(jí)復(fù)型是指在試樣表面的一次直接復(fù)型。 
 
一級(jí)復(fù)型復(fù)型主要分為塑料(火棉膠)一級(jí)復(fù)型和碳膜一級(jí)復(fù)型。 
 
其中,塑料一級(jí)復(fù)型,相對(duì)于試樣表面來講,是一種負(fù)復(fù)型,即復(fù)型與試樣表面的浮雕相反;它是對(duì)樣品表面形貌的簡(jiǎn)單的復(fù)制,其表面的形貌與樣品的形貌剛好互補(bǔ),所以稱之為負(fù)復(fù)型。而碳膜一級(jí)復(fù)型是一種正復(fù)型。 
① 塑料一級(jí)復(fù)型
碳膜與塑料一級(jí)復(fù)型的區(qū)別:
1.碳膜復(fù)型的厚度基本上相同,而塑料復(fù)型的厚度隨試樣位置而異。
2.塑料復(fù)型不破壞樣品;而碳膜復(fù)型破壞樣品(分離膜與樣品時(shí)要電解腐蝕樣品)。
3.塑料復(fù)型因塑料分子較大,分辨率低(10-20nm);碳離子直徑小,碳膜復(fù)型分辨率高(2nm)
 
塑料-碳二級(jí)復(fù)型
 
塑料-碳二級(jí)復(fù)型結(jié)合兩種一級(jí)復(fù)型的優(yōu)點(diǎn)。不破壞樣品原始表面;最終復(fù)型碳膜,穩(wěn)定性和導(dǎo)電導(dǎo)熱性都很好,電子束照射下不易分解和破裂;分辨率和塑料一級(jí)復(fù)型相當(dāng)。  
 
適于粗糙表面和斷口的復(fù)型。
 
二、直接樣品的制備
 
1.粉末樣品制備 
 
粉末樣品制備的關(guān)鍵是如何將超細(xì)粉的顆粒分散開來,各自獨(dú)立而不團(tuán)聚。 
 
膠粉混合法:在干凈玻璃片上滴火棉膠溶液,然后在玻璃片膠液上放少許粉末并攪勻,再將另一玻璃片壓上,兩玻璃片對(duì)研并突然抽開,稍候,膜干。用刀片劃成小方格,將玻璃片斜插入水杯中,在水面上下空插,膜片逐漸脫落,用銅網(wǎng)將方形膜撈出,待觀察。 
      支持膜分散粉末法: 需TEM分析的粉末顆粒一般都遠(yuǎn)小于銅網(wǎng)小孔,因此要先制備對(duì)電子束透明的支持膜。常用的支持膜有火棉膠膜和碳膜,將支持膜放在銅網(wǎng)上,再把粉末放在膜上送入電鏡分析。
支持膜材料必須具備的條件:
 
① 無結(jié)構(gòu),對(duì)電子束的吸收不大;
② 顆粒度小,以提高樣品分辨率;
③ 有一定的力學(xué)強(qiáng)度和剛度,能承受電子束的照射而不變形、破裂。
 
常用的支持膜材料:火棉膠、碳、氧化鋁、聚乙酸甲基乙烯酯等。在火棉膠等塑料支持膜上鍍一層碳,提高強(qiáng)度和耐熱性,稱為加強(qiáng)膜。支持膜上的粉末試樣要求高度分散,可根據(jù)不同情況選用分散方法:
① 懸浮法:超聲波分散器將粉末在與其不發(fā)生作用的溶液中分散成懸浮液,滴在支持膜上,干后即可。為了防止粉末被電子束打落污染鏡筒,可在粉末上再噴一層碳膜,使粉末夾在中間。
 
② 散布法:直接撒在支持膜表面,叩擊去掉多余,剩下的就分散在支持膜上。
 
在分散粉末時(shí)要特別注意,如果分散不好的,在電鏡下將觀察不到單個(gè)的粉末顆粒。為了確保粉末分散,一般用小的容器盛滿酒精或丙酮,然后往里面放入極少量的粉末樣品,之后將其置于超聲波振蕩器中振動(dòng)15分鐘以上,再用帶支持膜的銅網(wǎng)在溶液中輕輕地?fù)埔幌录纯伞?/div>
 
2. 晶體薄膜樣品
 
塊狀材料多采用此方法。 
 
通過減薄制成對(duì)電子束透明的薄膜樣品。 
 
薄膜樣品制備方法要求:
 
①薄膜樣品的組織結(jié)構(gòu)必須和大塊樣品相同,且制備過程中不引起材料組織的變化。
 
② 薄,相對(duì)電子束而言必須有足夠的“透明度”,且避免薄膜內(nèi)不同層次圖像的重疊,干擾分析。
 
③ 具有一定的強(qiáng)度。
 
晶體薄膜法
 
p薄膜樣品制備步驟:
 
① 切。呵腥”K(厚度<0.5mm)
 
② 預(yù)減薄:用機(jī)械研磨、 Dimpling、化學(xué)拋光等減薄成“薄片”(0.1mm)
 
③ 終減薄:用電解拋光、離子轟擊減薄成“薄膜”(<500nm)(視材料而定,對(duì)于塑性較好而
 
又導(dǎo)電的材料,一般采用雙噴電解拋光,而對(duì)于陶瓷等脆性較大,又不導(dǎo)電的材料一般用離子減
 
薄的方法。 )避免引起組織結(jié)構(gòu)變化,不用或少用機(jī)械方法。終減薄時(shí)去除損傷層。
來源:北京澳優(yōu)啟航科技有限公司
聯(lián)系電話:19815387867
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