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掃描電鏡(SEM)的主要參數(shù)設(shè)置及其影響

瀏覽次數(shù):924 發(fā)布日期:2024-11-8  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責任自負

掃描電鏡(SEM)的參數(shù)設(shè)置對于獲得高質(zhì)量的圖像至關(guān)重要。以下是一些主要的參數(shù)設(shè)置及其影響:

1. 加速電壓(kV):

- 加速電壓決定了電子束的能量,進而影響圖像的分辨率和深度。較高的加速電壓可以產(chǎn)生更高的能量電子束,使樣品表面更容易被穿透,從而獲得更深入的圖像細節(jié)。然而,過高的電壓可能會損壞樣品。

- 需要注意的是,高加速電壓在SE(二次電子)模式下對樣品表面結(jié)構(gòu)細節(jié)的分辨能力會降低,而低加速電壓則更適用于表面成像。


20kV 10,000 X SE   10kV  10,000 X SE

2. 探針電流(nA):

- 探針電流是指電子束在掃描過程中的強度。較高的探針電流能夠提供更多的電子,從而增強信號強度并減少圖像噪音。然而,過高的探針電流可能會導(dǎo)致樣品的燒損和退火。

3. 物鏡光闌:

- 物鏡光闌用于減少或排除外來(散射)電子,以獲得高分辨率的圖像。光闌的選擇和調(diào)整會影響電子束的直徑和圖像的分辨率。

- 在高倍率圖像觀察時,物鏡光闌必須合軸以消除像散。

4. 工作距離(WD):

- 工作距離是指樣品表面與電子槍之間的距離。較大的工作距離可以提供更大的深度焦點范圍,適用于具有不同高度的樣品。然而,較小的工作距離可以提供更高的分辨率和更詳細的圖像細節(jié)。


WD=12mm 20kV 10,000 X SE                  WD=6mm 20kV 10,000 X SE

5. 信號采集時間:

- 信號采集時間是指在掃描過程中每個像素點接收信號的時間。較長的信號采集時間可以提高圖像質(zhì)量,但也會增加掃描時間。因此,在實際應(yīng)用中,需要在圖像質(zhì)量和時間效率之間進行權(quán)衡。


20kV 100 X BSE

6. 對比度和亮度:

- 這兩個參數(shù)直接影響圖像的視覺效果。調(diào)節(jié)對比度可以使圖像上的噪聲達到最佳狀態(tài),而調(diào)節(jié)亮度則使屏幕顯示的灰度合適。


20kV 800 X BSE                                     20kV 800 X  SE

7. 其他參數(shù):

- 還包括如束斑尺寸、掃描速度、探測器類型等,這些參數(shù)的設(shè)置也會影響到圖像的質(zhì)量。

請注意,不同的電鏡設(shè)備即使參數(shù)相同,成像效果也可能會有差異。因此,為了確定樣品成像的最佳設(shè)置,需要進行實踐操作和反復(fù)調(diào)整。此外,對于某些特定的樣品或研究目的,可能還需要進行額外的樣品處理或參數(shù)優(yōu)化。

以上信息僅供參考,具體操作時應(yīng)遵循設(shè)備的使用說明書和實驗室的安全規(guī)范。

來源:鉑瑞達(北京)科技有限公司
聯(lián)系電話:400-625-9009
E-mail:emkete@emcrafts.com.cn

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