【概述】
2017 年，上海交通大學賈金鋒與劉燦華在Review of scientific instruments 發(fā)表了一篇題為《Development of in situ two-coil mutual inductance technique in a multifunctional scanning tunneling microscope》文章，報道了多功能掃描隧道顯微鏡中原位雙線圈互感技術的研制。
 

圖1. 兩線圈互感器示意圖電感測量 (a)傳輸型  (b)反射型.
黃色和藍色箭頭分別表示樣品處于正常和超導狀態(tài)時驅動線圈發(fā)出的磁力線

文章基于多功能掃描隧道顯微鏡(MSTM)開發(fā)了雙線圈互感裝置，它不僅能實現通常的掃描隧道顯微鏡的功能，而且還能實現原位四點探針(4PP)的電氣功能。利用自行設計的四電極壓電掃描管進行傳輸測量�？梢栽诓粨p壞超導薄膜樣品的前提下為樣本進行所有數據的測量采集，有了這一技術，就可以在一個單獨的特高壓室中通過測量不同溫度(≥ 320 mK)和高磁場(≤ 11 T)下超導薄膜的電學和抗磁性能，對超導薄膜的進行系統(tǒng)性的研究。

【樣品 & 測試】

互感測量電路如圖2(a)所示。驅動和檢測線圈使用同軸屏蔽電纜連接到Keithley 6221電流源和OE1022鎖相放大器(賽恩科儀)。整個測量系統(tǒng)的噪聲水平低于 10 nV。Lakeshore 350控制器通過調節(jié)樣品臺附近的加熱器輸出功率來改變樣品溫度。利用Cryogenic SMS 100控制器在垂直于樣品表面的方向上產生高達11 T的磁場，PC端控制軟件采用LabView 2011編寫。集成了參數配置、數據采集、溫度控制、磁場控制自動測量等功能。
 

圖2互感測量裝置

圖 2(b) 顯示了互感測量裝置的等效電路。 10 kΩ 的負載電阻 R 與驅動線圈串聯，以穩(wěn)定小于 200 µA 的勵磁電流的相位。 M代表驅動線圈和拾波線圈之間的互感。 Rd和Rp 分別代表驅動器的電阻和檢測線圈的電阻。 在室溫下的透射（反射）型設置中，Rd 和 Rp分別約為 20 Ω (40 Ω) 和 5 Ω (7 Ω)。 施加到驅動線圈的電壓信號也作為輸入到鎖相放大器REF IN作為外部參考信號。檢測線圈的輸出與參考信號之間的所需相位差為90°。 然而，由于驅動線圈和檢測線圈之間的寄生電容 C，會發(fā)生虛假相移，實際相位差測量為 90° ± 5°
 

圖3 (a) 傳輸型的互感測量結果(b) 反射型配置。
 

圖3(c) 磁穿透深度 λ 和從反射型測量中提取的超流體密度 ns / λ-2結果。彎曲的箭頭表示每個對應的 Y 軸位置數據集

在透射型和反射型配置中，測得的 V-p 作為溫度的函數分別顯示在圖. 3(a) 和 3(b)。 兩者都揭示了在 Tc ∼ 11 K 時顯著的超導轉變，由 Vp(T) 曲線的實部表示。 在每條 Vp(T) 曲線的虛部中峰值（透射型）或凹陷（反射型）可能與能量耗散有關，這是因為先前研究中提出的渦流反渦流解綁機制。這就是印證NbN 薄膜中存在Kosterlitz-Thouless轉變機制。

【總結】
綜上所述，作者設計開發(fā)了多功能掃描隧道顯微鏡(MSTM)的雙線圈互感裝置，該裝置在壓電掃描管上有四個電極。設計的系統(tǒng)能夠有效地測量超導薄膜的抗磁響應以及 STM 和 4PP 電傳輸測量。雙線圈互感測量的性能在 Nb 摻雜 SrTiO3 襯底上生長的 10 nm 厚 NbN 薄膜上的實驗得到驗證，NbN 薄膜在11 K時出現明顯的超導轉變。 可研究新型低維材料的本征超導性。被廣泛應用于研究超薄超導薄膜方面。

在該實驗系統(tǒng)中，賽恩科儀的鎖相放大器是微弱電信號檢測有力工具，為客戶在掃描隧道顯微鏡測量中提供了穩(wěn)定、有效的實驗手段，為該領域研究的快速進展提供了有力的保障。

【參考文獻】
✽ Canhua Liu, Jin-Feng Jia, et al. " Development of in situ two-coil mutual inductance technique in a multifunctional scanning tunneling microscope." Review of scientific instruments (2017)

【其他文獻】
✽ M. Z. Liu, D. Y. Zhong* et al.“Graphene-like nanoribbons periodically embedded with four- and eight-membered rings. “Nature Communications 8, 14924 (2017)

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