荷蘭飛納電鏡源自 FEI，出生于荷蘭 “發(fā)明之城” 埃因霍溫，以 “任何人都可用的電鏡” 聞名于世，現(xiàn)已成為臺式掃描電鏡第一品牌。讓您的掃描電鏡測試變得簡單高效是我們一直以來的目標(biāo)。

 

 

應(yīng)用領(lǐng)域廣泛

 

飛納目前在中國擁有 1000 多名用戶，包括：清華、北大等幾百家高校；中科院等各類研究院所；海關(guān)、公安局等政府機(jī)構(gòu)；以及新能源、生命科學(xué)、半導(dǎo)體等企業(yè)單位。研究領(lǐng)域涉及金屬及合金，電池，地質(zhì)，考古，高分子，靜電紡絲，陶瓷，復(fù)合材料，生物醫(yī)學(xué)，微生物等。   

 

 

飛納電鏡型號推薦

 

1. 臺式場發(fā)射電鏡能譜一體機(jī) Phenom Pharos

放大倍數(shù)：1,000,000 X
分辨率：優(yōu)于 2 nm
燈絲材料：肖特基場發(fā)射電子槍
抽真空時間：小于 15 秒
探測器：背散射電子探測器，二次電子探測器，能譜探測器

 

2. 掃描電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX

放大倍數(shù)：150,000 X
分辨率：優(yōu)于 8 nm@10kV
燈絲材料：1,500 小時 CeB6 燈絲
抽真空時間：小于 15 秒
探測器：背散射電子探測器（選配二次電子），能譜探測器

 

3. 大樣品室卓越版 Phenom XL

放大倍數(shù)：200,000 X
分辨率：優(yōu)于 10 nm
燈絲材料：1,500 小時 CeB6 燈絲
抽真空時間：小于 30 秒
探測器：背散射電子探測器（選配二次電子和 EDS 能譜儀）
樣品室尺寸：100mm x 100mm

 

全自動解決方案

 

1. ParticleX 全自動顆粒分析系統(tǒng)

 

主要用于雜質(zhì)或顆粒物的綜合評估，可以自動獲取大量顆粒的微觀形貌 和成分信息，具體包括：

 

· 顆粒粒度分布
· 顆粒形貌分析
· 雜質(zhì)成分檢測
· 高分辨率成像

 

ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎(chǔ)，結(jié)合自動控制系統(tǒng)以及強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫 系統(tǒng)，可以全自動對雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識別、分析和分類統(tǒng)計，為客戶的研發(fā)以 及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。

 

2. DiatomScope 全自動硅藻檢驗系統(tǒng)

 

DiatomScopeTM 系統(tǒng)為法醫(yī)硅藻檢驗提供了目前最可靠最高效的解決方案，能自動完成每批各個樣品的高質(zhì)量的圖像捕捉，實(shí)現(xiàn) 地毯式拼圖（可設(shè)置夜間自動運(yùn)行）；用戶從獲取的圖片中逐個查找、標(biāo)記硅藻位置（允許多用戶同時標(biāo)記來提高效率）；DiatomScopeTM 對所有標(biāo)記的位置自動高倍數(shù)取圖；最后，系統(tǒng)將自動生成包含所有被標(biāo)記硅藻的高質(zhì)量圖片的報告。

 

 

4. 高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro

放大倍數(shù)：150,000 X
分辨率：優(yōu)于 8 nm@10kV
燈絲材料：1,500 小時 CeB6 燈絲
抽真空時間：小于 15 秒
探測器：背散射電子探測器（選配二次電子）

 

5. 經(jīng)濟(jì)型標(biāo)準(zhǔn)版 Phenom Pure

放大倍數(shù)：65,000 X
分辨率：優(yōu)于 25 nm
燈絲材料：1,500 小時 CeB6 燈絲
抽真空時間：小于 15 秒
探測器：背散射電子探測器（選配二次電子）

 

飛納臺式掃描電鏡設(shè)計緊湊，不占空間。無需額外安裝防震臺和磁屏蔽，對安裝環(huán)境沒有特殊要求，且不需要專人維護(hù)。

 

 

飛納電鏡抽真空最快只需 15s，成像只需 1 分鐘。操作簡單意味著檢測效率的提升，也意味著能為您節(jié)約大量的時間成本。與此同時，飛納電鏡還兼具 EDS，顆粒統(tǒng)計等附加功能，是快速篩選及分析樣品的最佳選擇。