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X熒光光譜儀分析模式及優(yōu)點(diǎn)

瀏覽次數(shù):1310 發(fā)布日期:2014-9-17  來(lái)源:http:///
X熒光光譜儀可以應(yīng)用于水泥、鋼鐵、建材、石化、有色、硅酸鹽、煤炭、高嶺土、耐火材料、科研、環(huán)保等行業(yè),是一種中型、經(jīng)濟(jì)、高性能的光譜儀。采用固定通道,減少測(cè)量時(shí)間;固定通道尤其適用于熒光產(chǎn)額較低的輕元素和微量元素的測(cè)定,以提高分析精度和靈敏度。X熒光光譜儀采用操作方便,用戶習(xí)慣的智能化軟件,提供全自動(dòng)分析操作,實(shí)現(xiàn)快速定性、定量分析和半定量分析 。
 
X熒光光譜儀一般有以下三點(diǎn)分析模式:
1、點(diǎn)分析
將電子探針固定在試樣感興趣的點(diǎn)上,進(jìn)行定性或定量分析。該方法用于顯微結(jié)構(gòu)的成份分析,例如,對(duì)材料晶界、夾雜、析出相、沉淀物、奇異相及非化學(xué)計(jì)量材料的組成等分析。
 
2、線分析
電子束沿一條分析線進(jìn)行掃描(或試樣掃描) 時(shí),能獲得元素含量變化的線分布曲線。如果和試樣形貌像(二次電子像或背散射電子像)對(duì)照分析,能直觀地獲得元素在不同相或區(qū)域內(nèi)的分布。沿感興趣的線逐點(diǎn)測(cè)量成分,也可以劃出該線的成分變化曲線。
 
3、面分析
將電子束在試樣表面掃描時(shí),元素在試樣表面的分布能在CRT上以亮度分布顯示出來(lái)(定性分析),亮度越亮,說(shuō)明元素含量越高。研究材料中雜質(zhì)、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常與形貌像對(duì)照分析。
 
點(diǎn)、線、面分析方法用途不同,檢測(cè)靈敏度也不同,定點(diǎn)分析靈敏度最高,面掃描分析靈敏度最低。
 
X熒光光譜儀分析方法有以下優(yōu)點(diǎn):
1、分析速度高,測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
 
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。
 
3、非破壞分析:在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
 
4、X熒光光譜儀分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
 
5、X熒光光譜儀的分析精密度高。
 
6、制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
 
本文轉(zhuǎn)載自:http:///xrfjs/125.html。
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