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直接分析法和離子淌度TOF MS在環(huán)境分析中的適用性研究

瀏覽次數(shù):2338 發(fā)布日期:2014-4-15  來源:本站 僅供參考,謝絕轉載,否則責任自負

Michael McCullagh and Ramesh Rao
沃特世公司(英國曼徹斯特)

簡介
自第一臺市售離子淌度質譜儀(SYNAPT HDMS,沃特世公司)面世以來,人們對離子淌度分離的關注持續(xù)升溫,該質譜儀以行波方式進行離子淌度分離(IMS)。隨著技術的進步,Waters® SYNAPT G2-S引進了改良的檢測系統(tǒng),從而提高了離子淌度分離度,改善了檢測靈敏度(StepWave)。各方面技術的不斷進步使得分析化學家們可以利用離子淌度光譜法結合質譜法來應對他們所面臨的分析難題。

本應用紀要對直接分析法(DA)結合IMS/MS的應用進行了研究,其中目標樣品以直接注入的方式進樣并展示出了IMS的優(yōu)勢。離子淌度可與多種直接分析技術相結合,例如ASAP、DART和DESI,以通過運用離子淌度技術實現(xiàn)分離。

沃特世解決方案
SYNAPT® G2-S質譜儀
High Definition Mass Spectrometry™(HDMS™)
StepWave™離子傳輸設備
DriftScope™淌度軟件

應用優(yōu)勢
■ 將直接分析法與離子淌度產生的正交分離相結合可拓展直接分析技術的適用范圍。
■ 無需采用色譜法即可實現(xiàn)與基質干擾物的分離。
■ 常規(guī)質量測量誤差<2 ppm,極大地提高了元素分配組成的正確性和結構解析數(shù)據(jù)的可靠性。
■ 利用離子淌度技術分離同分異構體,并且達到淌度分離后可生成相應的單個MS譜圖和MS/MS譜圖。
■ CO2作為遷移室氣體能夠提高離子淌度分離度。

下載完整應用紀要請點擊:http://www.waters.com/waters/library.htm?cid=511436&lid=134708478&locale=zh_CN

來源:沃特世科技(上海)有限公司
聯(lián)系電話:800(400)8202676 (免費電話支持專線)
E-mail:Jackie_qian@waters.com

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