非損傷微測(cè)技術(shù)研究單離子通道產(chǎn)生的細(xì)胞外離子梯度
瀏覽次數(shù):2767 發(fā)布日期:2009-1-14
來(lái)源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)
單離子通道事件導(dǎo)致的胞外離子濃度梯度的變化是一個(gè)比較重要但也比較困難的研究領(lǐng)域。Mark A. Messerli等[1]以爪蟾卵母細(xì)胞為研究對(duì)象,使用非損傷微測(cè)技術(shù)測(cè)量不同mSlo通道(Ca2+ 激活型K+ 通道)事件對(duì)胞外K+ 濃度梯度的影響,并與數(shù)學(xué)模型相結(jié)合比較分析。
在mSlo通道過(guò)表達(dá)的卵母細(xì)胞中,實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)與數(shù)學(xué)模型變化趨勢(shì)一致,但實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)中存在模型預(yù)測(cè)不到的相對(duì)快速和短暫的K+ 濃度變化。而在注水稀釋mSlo RNA以獲得較低通道密度的卵母細(xì)胞中,檢測(cè)了三個(gè)獨(dú)立的單通道事件,實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)和數(shù)學(xué)模型可以非常好的擬合。這充分說(shuō)明了非損傷微測(cè)技術(shù)測(cè)量單離子通道事件的可靠性,也改變了只有檢測(cè)技術(shù)的響應(yīng)時(shí)間與離子通道開(kāi)放時(shí)間非常接近時(shí)才能測(cè)量單通道事件的傳統(tǒng)觀念。
如果您想獲得這篇文章或詳細(xì)的技術(shù)信息,請(qǐng)登錄我公司“技術(shù)論壇”(http://www.xuyue.net/xylt)或直接致電:010-82622628 或 010-82622629,我們的工程師隨時(shí)可以為您解答。
“美國(guó)揚(yáng)格非損傷技術(shù)中心”,是美國(guó)揚(yáng)格科技公司首次在中國(guó)設(shè)立的技術(shù)中心,為客戶提供高質(zhì)量的測(cè)試服務(wù)。同時(shí)還向廣大科研工作者開(kāi)放,讓大家可以零距離地觀摩參觀,并可提供試測(cè),使大家有機(jī)會(huì)親身體驗(yàn)“非損傷微測(cè)技術(shù)”的魅力。如果您也想了解或者嘗試這項(xiàng)技術(shù),請(qǐng)與我們的工程師聯(lián)系,我們隨時(shí)歡迎您。
[1]Messerli MA, Corson ED, Smith PJ. Measuring extracellular ion gradients from single channels with ion-selective microelectrodes. Biophys J,2007,92(7):L52-54.