190-400nm紫外波段SID4 UV-HR免費試用!

紫外波段SID4 UV-HR免費試用

Phasics波前傳感器以其獨有的橫向四波剪切技術聞名，其推出的SID4系列波前傳感器以高靈敏度、高分辨率、高重復性的特點更受市場青睞，昊量光電推出免費試用-紫外波段SID4-UV HR樣機活動，為190nm-400nm紫外波段科研方向研發(fā)助助力，為中國工業(yè)提提速！

PHASICS成立于2003年，提供zui先jin的光學計量和成像解決方案，從獨立的SID4波前傳感器到全自動測試臺、Kaleo MTF、MultiWAVE，以及全模塊化計量解決方案Kaleo Kit。PHASICS獨特的、獲得專li的波前傳感技術被稱為四波橫向剪切干涉術（QWLSI）。

相位四波橫向剪切干涉儀，稱為SID4波前傳感器，QWLSI技術是為了克服Shack-Hartmann (SH)技術的分辨率不足而開發(fā)的。它采用了智能衍射光柵設計，而不是哈特曼測試中使用的孔和夏克在20世紀60年代提出的微透鏡。

圖1 SID4波前傳感器部分測試結果圖

★什么是波前傳感器?

波前傳感器是一種設計用來測量光波前的裝置。術語“波前傳感器”;適用于不需要任何參考光束干擾的波前測量儀器。波前傳感器的應用范圍很廣，如光學測試和對準(表面測量)、傳輸波前誤差測量、調制。

★QWLSI四波橫向剪切干涉測量原理

四波橫向剪切干涉測量(QWLSI原理) 具有納米級靈敏度和高分辨率的相位和強度。這項創(chuàng)新技術依靠衍射光柵將入射光束復制成4個相同的波。經(jīng)過幾毫米的傳播，4個波紋重疊并干涉，在檢測器上產(chǎn)生干涉圖。

★QWLSI四波橫向剪切干涉技術優(yōu)勢

四波橫向剪切干涉測量技術(QWLSI)，也被稱為改進哈特曼掩模技術，是一種獲得專li的波前傳感技術。它以其高空間分辨率，無需中繼透鏡即可測量發(fā)散光束的能力和消色差而脫穎而出。該技術于2004年由Phasics在市場上推出，現(xiàn)在因其性能和易于集成而獲得國際認可。

★SID4 UV HR紫外波前傳感器特點

在190nm ~ 400nm的紫外波段，SID4 UV HR波前分析儀具備高分辨率(512x512測量點)和高靈敏度。使用范圍包括并不局限適用于光學元件表征(光刻、半導體)和表面測量(透鏡和晶圓)。

★SID4 UV HR紫外波前傳感器參數(shù)

 如果您對波前傳感器有興趣，請訪問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：

https://www.auniontech.com/details-1631.html

歡迎繼續(xù)關注上海昊量光電的各大媒體平臺，我們將不定期推出各種產(chǎn)品介紹與技術新聞。

更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電

關于昊量光電：

上海昊量光電設備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等，涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等服務。

您可以通過我們昊量光電的官方網(wǎng)站www.auniontech.com了解更多的產(chǎn)品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。

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紫外波段SID4 UV-HR免費試用

Phasics波前傳感器以其獨有的橫向四波剪切技術聞名，其推出的SID4系列波前傳感器以高靈敏度、高分辨率、高重復性的特點更受市場青睞，昊量光電推出免費試用-紫外波段SID4-UV HR樣機活動，為190nm-400nm紫外波段科研方向研發(fā)助助力，為中國工業(yè)提提速！

PHASICS成立于2003年，提供zui先jin的光學計量和成像解決方案，從獨立的SID4波前傳感器到全自動測試臺、Kaleo MTF、MultiWAVE，以及全模塊化計量解決方案Kaleo Kit。PHASICS獨特的、獲得專li的波前傳感技術被稱為四波橫向剪切干涉術（QWLSI）。

相位四波橫向剪切干涉儀，稱為SID4波前傳感器，QWLSI技術是為了克服Shack-Hartmann (SH)技術的分辨率不足而開發(fā)的。它采用了智能衍射光柵設計，而不是哈特曼測試中使用的孔和夏克在20世紀60年代提出的微透鏡。

圖1 SID4波前傳感器部分測試結果圖

★什么是波前傳感器?

波前傳感器是一種設計用來測量光波前的裝置。術語“波前傳感器”;適用于不需要任何參考光束干擾的波前測量儀器。波前傳感器的應用范圍很廣，如光學測試和對準(表面測量)、傳輸波前誤差測量、調制。

★QWLSI四波橫向剪切干涉測量原理

四波橫向剪切干涉測量(QWLSI原理) 具有納米級靈敏度和高分辨率的相位和強度。這項創(chuàng)新技術依靠衍射光柵將入射光束復制成4個相同的波。經(jīng)過幾毫米的傳播，4個波紋重疊并干涉，在檢測器上產(chǎn)生干涉圖。

★QWLSI四波橫向剪切干涉技術優(yōu)勢

四波橫向剪切干涉測量技術(QWLSI)，也被稱為改進哈特曼掩模技術，是一種獲得專li的波前傳感技術。它以其高空間分辨率，無需中繼透鏡即可測量發(fā)散光束的能力和消色差而脫穎而出。該技術于2004年由Phasics在市場上推出，現(xiàn)在因其性能和易于集成而獲得國際認可。

★SID4 UV HR紫外波前傳感器特點

在190nm ~ 400nm的紫外波段，SID4 UV HR波前分析儀具備高分辨率(512x512測量點)和高靈敏度。使用范圍包括并不局限適用于光學元件表征(光刻、半導體)和表面測量(透鏡和晶圓)。

★SID4 UV HR紫外波前傳感器參數(shù)

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PHASICS成立于2003年，提供zui先jin的光學計量和成像解決方案，從獨立的SID4波前傳感器到全自動測試臺、Kaleo MTF、MultiWAVE，以及全模塊化計量解決方案Kaleo Kit。這一系列波前測量系統(tǒng)和定量相位成像解決方案基于創(chuàng)新的高分辨率波前傳感技術。PHASICS獨特的、獲得專li的波前傳感技術被稱為四波橫向剪切干涉術（QWLSI）。

上海昊量光電作為PHASICS在中國大陸地區(qū)zui大的代理商，為您提供專業(yè)的選型以及技術服務。對于PHASICS有興趣或者任何問題，都歡迎通過電話、電子郵件或者微信與我們聯(lián)系。

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