蔡司全新RISE(SEM-Raman關(guān)聯(lián))系統(tǒng)隆重上市
瀏覽次數(shù):6816 發(fā)布日期:2019-3-26
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近期,蔡司在北京正式發(fā)布了全新Sigma300-RISE關(guān)聯(lián)顯微鏡系統(tǒng)。作為一家擁有170多年歷史且專(zhuān)注于顯微技術(shù)研發(fā)的企業(yè),蔡司從未停止其與科研俱進(jìn)的腳步。
與德國(guó)Witec公司合作,蔡司對(duì)共焦Raman顯微鏡系統(tǒng)進(jìn)行了改進(jìn),實(shí)現(xiàn)了快速Raman成像(Fast Raman Imaging),并成功將其集成到現(xiàn)有的SEM平臺(tái)上,實(shí)現(xiàn)了關(guān)聯(lián)SEM-EDS-Raman成像分析能力。至此,繼EDS,EBSD, CL, EBL等各種分析與材料改性功能后,蔡司SEM平臺(tái)的新家族成員 – RISE(Raman Imaging Scanning Electron Microscope),即關(guān)聯(lián)SEM-Raman顯微鏡系統(tǒng)的加入,為您的科研提供了全方位的解決方案。
作為全新的關(guān)聯(lián)分析解決方案,蔡司Sigma300-RISE系統(tǒng)不僅能夠?qū)崿F(xiàn)FESEM和傳統(tǒng)共焦Raman分析的所有功能,同時(shí)還帶來(lái)了更為高效而強(qiáng)大的分析能力:
- 基于蔡司獨(dú)特Gemini技術(shù)的高分辨、高兼容性FESEM
- 基于蔡司高性能光學(xué)顯微鏡Axio Scope的共焦Raman顯微鏡
- 快速的2D和3D Raman成像,與傳統(tǒng)Raman Mapping相比極大地提升了成像速度
- SEM, EDS, Raman圖像的位置關(guān)聯(lián)與重合,實(shí)現(xiàn)真正的原位多角度分析
先進(jìn)的一體化設(shè)計(jì)保證了整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性,在測(cè)試過(guò)程中樣品始終處于SEM腔室中,同時(shí)快速的原位關(guān)聯(lián)技術(shù)保證了測(cè)試的精確性與高效性,從而使蔡司SEM-RISE關(guān)聯(lián)顯微鏡系統(tǒng)能夠廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)(納米材料,二維材料,高分子材料,碳材料,生物材料研究等),半導(dǎo)體,地質(zhì),礦物分析,生命科學(xué),制藥,能源等領(lǐng)域。
應(yīng)用案例:
RISE對(duì)大腸桿菌的分析,從中可以區(qū)分出大腸桿菌,Si以及其他一些無(wú)定形物質(zhì)的分布
通過(guò)蔡司Gemini優(yōu)秀的低電壓成像技術(shù)對(duì)PMMA/PS聚合物進(jìn)行成像,并使用關(guān)聯(lián)共焦Raman顯微鏡對(duì)PMMA和PS兩種成分進(jìn)行區(qū)分。
通過(guò)SEM與Raman成像的關(guān)聯(lián)實(shí)現(xiàn)對(duì)不同層數(shù)石墨烯的表征,以及石墨烯層間扭曲角度的分辨
SEM-EDS-Raman共同關(guān)聯(lián),對(duì)Li離子電池的正負(fù)極材料,以及電池隔膜在電池老化過(guò)程中的變化進(jìn)行分析
對(duì)鐵礦石中不同礦物相的分離,以及對(duì)同一礦物不同相晶體取向的表征
目前,蔡司Sigma300-RISE關(guān)聯(lián)顯微鏡系統(tǒng)已經(jīng)在蔡司北京客戶中心安裝完成并投入使用,歡迎各位老師蒞臨交流。
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