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CRAIC攜手云緯科技為顯微光譜分析提供先進解決方案

瀏覽次數(shù):2773 發(fā)布日期:2017-7-18  來源:本站 本站原創(chuàng),轉載請注明出處
美國CRAIC是一家提供顯微分光光度計解決方案的全球領先供應商,自成立以來, CRAIC一致致力于為顯微區(qū)域的深紫外,可見光,近紅外研發(fā)光學測量設備,其研發(fā)的顯微分光光度計可以對小于一個微米的樣品進行光譜分析.,CRAIC 也設計和搭建紫外-可見光-近紅外透過范圍的科研級顯微鏡,美國CRAIC系統(tǒng)可從微觀的樣品中無損的獲得熒光,透射,和反射的全光譜和圖像,美國CRAIC 原廠及其科研級的檢測系統(tǒng)除了廣泛應用于工業(yè)(比如半導體檢查),制藥,還應用于材料科學、地質科學、生物科學及制藥、表面等離子共振,法醫(yī)痕跡鑒證等科學研究領域。

深圳云緯科技有限公司成為美國CRAIC 在中國的一級代理商,我公司與美國CRAIC公司一起攜手,為國內微區(qū)光譜科研貢獻最先進的微區(qū)光譜解決方案,深圳云緯科技有限公司是一家先進的檢測分析儀器設備供應商,專業(yè)為客戶提供最全面的,最先進的顯微光譜分析檢測儀器設備。我們也是一家專業(yè)技術型的貿(mào)易企業(yè),也一直致力于材料科學,地質研究,生物科學及制藥,刑偵和工業(yè)檢測等領域。

 

CRAIC一直致力于以下研究顯微分析技術

• 紫外-可見光-近紅外 顯微光譜學技術
• 紫外-可見光-近紅外 顯微鏡學
• 色度顯微光譜學
• 透射顯微光譜學 &顯微鏡學
• 反射顯微光譜學 &顯微鏡學
• 熒光顯微光譜學 &顯微鏡學
• 偏振光顯微光譜學 &顯微鏡學
• 拉曼顯微光譜學
• 膜厚測量
• 譜模式

 

美國CRAIC 具有全球最豐富的顯微分光光度計的設計,開發(fā),制造和安裝的經(jīng)驗美國CRAIC 一直致力于為全球科研提供最高水準的卓越品質和服務

深圳云緯科技有限公司

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