CRAIC 508PV顯微分光光度計(jì)由顯微鏡和光譜儀兩部分組成。508PV顯微分光光度計(jì)結(jié)合了顯微學(xué)及光譜學(xué)的優(yōu)勢,實(shí)現(xiàn)了對顯微樣品的無損光譜測量及光譜分析。508PV不僅能夠獲得顯微樣品的高質(zhì)量顯微圖像,還可以對樣品進(jìn)行微小區(qū)域測量。光譜范圍375nm -1000nm?赏瓿晌栈蛲干涔庾V、反射光譜、熒光光譜和偏振光譜的采集分析。QDI系列顯微分光光度計(jì)采用科研級致冷CCD檢測器作為光譜分析檢測器,CCD檢測器與傳統(tǒng)光電倍增管檢測器相比具有不需高壓直流電源、無需預(yù)熱、儀器工作穩(wěn)定無漂移、預(yù)期壽命長等特點(diǎn)。508PV顯微分光光度計(jì)用于煤炭質(zhì)量檢測、評價(jià)和研究,測定煤鏡質(zhì)組隨機(jī)反射率,其測定結(jié)果,滿足ISO 7404,ASTM D2798和國家標(biāo)準(zhǔn)GB6948-2008《煤鏡質(zhì)組反射率測定方法》,可根據(jù)測定結(jié)果給出鏡質(zhì)組平均隨機(jī)反射率、鏡質(zhì)組平均最大反射率、標(biāo)準(zhǔn)方差等煤巖參數(shù)與反射率分布圖。
目前CRAIC系列分光光度計(jì)已用于煤炭,石油,地質(zhì),礦物學(xué),生物學(xué),半導(dǎo)體科學(xué),材料科學(xué),工業(yè)質(zhì)量控制及刑事科學(xué)等。 | |
美國CRAIC最新的FLEX光譜儀集成系統(tǒng)為紫外-可見-近紅外顯微光譜學(xué)設(shè)定了一個新的標(biāo)準(zhǔn)。使用最前沿技術(shù)的FLEX不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或其他光源類型下的光譜,還同時(shí)提供了數(shù)字成像功能。光譜測試的范圍從深紫外到近紅外,同時(shí)也提供全波段的成像。具備先進(jìn)的光譜及圖像分析軟件、自動化的參數(shù)設(shè)置、簡單易用、能長時(shí)間穩(wěn)定工作等優(yōu)良特性。FLEX是工廠產(chǎn)品檢測以及實(shí)驗(yàn)室樣品分析的完美工具。
FLEX集成了紫外-可見-近紅外(200-2200nm光譜儀、拉曼光譜儀、成像系統(tǒng)于一身,同時(shí)光譜儀和數(shù)字成像系統(tǒng)都使用了最新的顯微鏡光路系統(tǒng)。高靈敏度的固態(tài)陣列檢測器件使用了熱電制冷的方式提高了器件的信噪比,并保證設(shè)備能長時(shí)間穩(wěn)定地工作。高分辨率的數(shù)字成像系統(tǒng)在用于紫外、近紅外以及可見光波段的彩色成像。多種類型的光源包提供了從深紫外到近紅外的光源,類型包括透射光、反射光、熒光等,偏振光和拉曼激光也可以根據(jù)用戶需求提供。精巧的軟件不僅可以控制顯微鏡、光譜儀和數(shù)字成像系統(tǒng),還同時(shí)提供了先進(jìn)分析功能,甚至包括薄膜厚度測量。
FLEX是顯微分光光度計(jì)最杰出的代表。 | |
美國CRAIC公司最新研發(fā)的20/30 PV光譜儀集成系統(tǒng)為紫外-可見-近紅外顯微光譜學(xué)設(shè)定了一個新的標(biāo)準(zhǔn)。使用最前沿技術(shù)的20/30 PV不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或其他光源類型下的光譜,還同時(shí)提供了數(shù)字成像功能。光譜測試的范圍從深紫外到近紅外,同時(shí)也提供全波段的成像。具備先進(jìn)的光譜及圖像分析軟件、自動化的參數(shù)設(shè)置、簡單易用、能長時(shí)間穩(wěn)定工作等優(yōu)良特性。20/30 PV是工廠產(chǎn)品檢測以及實(shí)驗(yàn)室樣品分析的完美工具。
20/30 PV集成了紫外-可見-近紅外光譜儀、拉曼光譜儀、成像系統(tǒng)于一身,根據(jù)產(chǎn)品不同,可以做紫外—可見光—近紅外(200-2200nm)的光譜分析,還可以提供帶Raman的測試功能,同時(shí)光譜儀和數(shù)字成像系統(tǒng)都使用了最新的顯微鏡光路系統(tǒng)。高靈敏度的固態(tài)陣列檢測器件使用了熱電制冷的方式提高了器件的信噪比,并保證設(shè)備能長時(shí)間穩(wěn)定地工作。高分辨率的數(shù)字成像系統(tǒng)在用于紫外、近紅外以及可見光波段的彩色成像。多種類型的光源包提供了從深紫外到近紅外的光源,類型包括透射光、反射光、熒光等,偏振光和拉曼激光也可以根據(jù)用戶需求提供。精巧的軟件不僅可以控制顯微鏡、光譜儀和數(shù)字成像系統(tǒng),還同時(shí)提供了先進(jìn)分析功能,甚至包括薄膜厚度測量。
20/30 PV 是顯微分光光度計(jì)最頂尖的代表。 |