對于軟金屬材料、多層膜材料、微電子及復(fù)合材料等,樣品切割/拋光常常是一項(xiàng)難以逾越的技術(shù)障礙。因此要獲得理想的SEM/EBSD分析結(jié)果也變得難上加難。
現(xiàn)在借助德國徠卡公司的最新EMTIC3X三離子束切割這項(xiàng)最新技術(shù),可以快速高效“切割”樣品,無應(yīng)力層,無涂抹效應(yīng),可暴露樣品內(nèi)部真實(shí)結(jié)構(gòu)信息,以便于SEM觀察,或EBSD等分析。
此次技術(shù)介紹及培訓(xùn)會時間為2012年6月7日-8日,在重慶大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院召開,依托重慶大學(xué)微觀組織與結(jié)構(gòu)分析中心技術(shù)支持,旨在拓展SEM/EBSD工作者在樣品制備方面的技術(shù)和技能,幫助大家找到更合適的樣品制備方法。
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徠卡顯微系統(tǒng)(Leica Microsystems)是具有160余年悠久歷史的德國著名的光學(xué)制造企業(yè),也是目前同行業(yè)中唯一能夠同時提供顯微鏡、圖像采集產(chǎn)品、圖像分析軟件的廠商。徠卡顯微系統(tǒng)的全球運(yùn)作分為三個業(yè)務(wù)部門:生命科學(xué)與研究顯微部門、工業(yè)顯微部門、手術(shù)顯微部門。它們均已成為各自領(lǐng)域的市場領(lǐng)導(dǎo)者。
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