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賽默飛世爾科技元素分析新技術用戶交流會會議通知

瀏覽次數(shù):3445 發(fā)布日期:2010-9-3  來源:本站 本站原創(chuàng),轉載請注明出處

賽默飛世爾的各位新老用戶: 您好!

在CCATM’2010 第十五屆冶金及材料分析測試學術報告會及展覽會召開之際,賽默飛世爾科技科學儀器事業(yè)部誠摯邀請您參加于 2010 年 9 月 12 日 15:00-18:00 于北京昌平九華山莊十區(qū)九號會議室舉辦的元素分析新技術交流會。

此次用戶會將介紹賽默飛世爾科技在直讀光譜儀(OES)、 X射線熒光光譜儀(XRF)、 全自動金屬分析系統(tǒng)、原子吸收光譜儀(AA)、電感耦合等離子體光譜儀(ICP)、等離子體質譜儀(ICPMS)的新技術及最新進展,希望用戶能從中受益。

會議具體安排如下:


2:45-3:00 簽到

3:00-3:30 賽默飛世爾科技自動化分析系統(tǒng)的最新進展
------ Marc, Bassin, Product Manager, Switzerland

3:30-4:00 Spark-DAT 用于夾雜物分析
------- Dr. Bohlen, Jean-Marc, Product Manager, Switzerland

4:00-4:30 UniQuant 無標樣分析軟件在冶金分析中的應用及特點
-----張星,XRF Application Specialist

4:30- 5:00 原子吸收光譜儀和等離子體發(fā)射光譜儀在金屬材料檢測中的應用
-----李小波,Application Manager

5:30-6:00 等離子體質譜儀在高溫合金中微量有害元素檢測中的應用
----陸文偉,Application Engineer

6:00-6:15 抽獎
6: 30-8:00 賽默飛世爾科技用戶會招待晚宴,10區(qū)一層湘西菜館

請確定參加本次會議的人員,按下列格式填妥回執(zhí),于9月10日前回傳至王朋,傳真: 010-68336714, 電話:010-84193588轉3254,郵件: .

點擊下載 報名回執(zhí).doc

您也可以在本網(wǎng)頁注冊報名: http://www.thermo.com.cn/InvitationDetail.aspx?ID=26  

感謝您長期以來對賽默飛世爾科技優(yōu)質產品和解決方案的支持與信任! 我們期待您的光臨!

賽默飛世爾科技
Thermo Fisher Scientific



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