443 次TOF-SIMS在聚合物薄膜和涂層的光譜分析 2024-10-10
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜( Time of FlightSecondary Ion Mass Spectrometry ,TOF-SIMS)是通過(guò)高能量的一次離子束轟擊樣品表面,使樣品表面的原子或原子團(tuán)吸收能量而從表面發(fā)生濺射產(chǎn)生二次粒子,
590 次TOF-SIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀離子源的選擇 2024-8-29
TOF-SIMS(TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry)飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀的基本組件包括一次離子束,和用于樣品深度剖析的離子束。主離子束被脈沖化以供飛行時(shí)間質(zhì)譜儀進(jìn)行分析使用。
676 次Specim IQ 高光譜成像技術(shù)揭示高原蜥蜴色彩適應(yīng)性?shī)W秘 2024-6-24
在生命科學(xué)的探索旅程中,我們時(shí)常被自然界中生物的精細(xì)適應(yīng)性所折服。中國(guó)科學(xué)院動(dòng)物研究所研究人員在Molecular Biology and Evolution上發(fā)表了題為《Genetically encoded lizard color div