當(dāng)需要以納米級分辨率觀察樣品超微結(jié)構(gòu)時，科學(xué)家通常借助電子顯微鏡（觀察表面結(jié)構(gòu)的掃描電鏡 SEM 和觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)的透射電鏡 TEM）——它們是當(dāng)前科研界可使用的最大顯微成像工具。

電鏡成像要求對樣品進(jìn)行通常 20-150 nm的超薄切片，使用超薄切片機(jī)切割的切片厚度薄、表面平整、光滑且無人為干擾因素，因此可以滿足電鏡成像對制備樣品的嚴(yán)苛要求。如果大量超薄切片具有樣品結(jié)構(gòu)的前后連續(xù)性，SEM 成像采集的圖像就可以進(jìn)行樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的 3D 重建，形成可用于分析的完整超微、精細(xì)立體圖像，即連續(xù)斷層成像技術(shù)（Array Tomography, AT）。
 
今天，小編簡要介紹一下 AT 成功的關(guān)鍵環(huán)節(jié)：連續(xù)超薄切片樣品制備。
 
 超薄切片之重要性
AT 常用于細(xì)胞、蛋白質(zhì)等生物 / 生物大分子結(jié)構(gòu)的納米分辨率、3D 結(jié)構(gòu)觀察和分析，主要步驟為包埋樣品連續(xù)（超�。┣衅�、TEM / SEM 或光學(xué)顯微鏡對其進(jìn)行成像、對獲得的一系列圖像進(jìn)行重建分析。AT 可以獲得的有效信息包括超微結(jié)構(gòu)的定量、體積分析和細(xì)胞 / 蛋白的形態(tài)學(xué)數(shù)據(jù)等，相較于共聚焦顯微鏡獲得的圖像，具有更高的水平和空間分辨率（可達(dá) 0.2 nm）。
 
超薄切片主要用于 TEM 成像前的樣品制備，以納米分辨率觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。無污染且獲取快速的超薄切片的主要優(yōu)勢在于：

• 整個切片均可用于電鏡成像，適合大尺寸樣品分析；
• 單張切片電子透射均一性好，保證結(jié)果可靠性；
• 制備速度快，短時間即可獲得大量切片；
• 適用樣品范圍廣，生物樣本和工業(yè)材料均適用。

 
 超薄切片的基本原理
對于 TEM 或者 3D 結(jié)構(gòu)重建，樣品高質(zhì)量連續(xù)切片是前提。因此，一臺如 Leica EM UC7 或者 EM ARTOS 3D（20-50 nm）（見圖 1）一樣穩(wěn)定可靠的超薄切片機(jī)是開展實驗的必備工具。