Avio200 ICP-OES微波制樣方案滿足危害性物質(zhì)限制（RoHS）指令要求
為了解決廢棄電子產(chǎn)品中的有毒金屬污染問題，危害性物質(zhì)限（RoHS）指令規(guī)定了鎘、六價鉻、汞和鉛在每種電子設(shè)備中允許存在的最高含量。為了達(dá)到RoHS 指令要求，最簡單也最高效的方法是使用微波消解制樣，并使用全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）進(jìn)行分析。盡管ICP-OES 不連接液相色譜儀無法區(qū)別元素的不同形態(tài)，但是它能夠測量鉻的總含量，以確定其是否超過規(guī)定水平。如果超過限值，則可以進(jìn)一步制樣，并采用其他技術(shù)手段分析樣品。
本文將重點(diǎn)關(guān)注如何使用ICP-OES 分析電子產(chǎn)品中的多種樣品類型，以確保符合RoHS 指令要求，以及制樣注意事項(xiàng)。
鑒于RoHS 指令涵蓋的樣品類型繁多，一一評估是不可能完成的。因此，我們選取具有代表性的若干種樣品類型進(jìn)行分析：塑料、導(dǎo)線絕緣層、焊料、電線和一塊電路板，除焊料是全新的以外，所有樣品均取自廢棄的電子產(chǎn)品。所有樣品均置于PerkinElmer Titan MPS™ 微波制樣系統(tǒng)中消解。所有分析工作都是使用PerkinElmer Avio™ 200 ICP發(fā)射光譜儀（軸向模式）完成的。
由于RoHS 指令規(guī)定的濃度值對于Avio 200 的檢測能力來講可以輕松實(shí)現(xiàn)，因此可以使用更短的自動積分時間，在不影響準(zhǔn)確度的情況下提高分析速度和樣品處理量。Avio 獨(dú)特的Flat Plate™ 平板等離子體技術(shù)確保所有分析都是在僅需消耗8 L/min 氬氣的條件下進(jìn)行的。再加上樣品分析效率的提高，能夠最大限度降低氬用量。
為了證明校準(zhǔn)曲線的準(zhǔn)確度，在讀取完校準(zhǔn)曲線后，直接對含量為RoHS 水平十分之一（溶液中）的標(biāo)樣進(jìn)行分析。表1 顯示了回收率，說明在低含量和高含量下，都能夠獲得準(zhǔn)確結(jié)果。
表1. 低含量和高含量標(biāo)樣回收率
本文證明Titan MPS 微波制樣系統(tǒng)和Avio 200 ICP-OES搭配能夠快速、準(zhǔn)確測量RoHS 指令涵蓋的多種類型樣品中的元素含量。只要正確選擇酸液，使用單一TitanMPS 程序，即可消解多種不同類型樣品，最大限度簡化RoHS 指令涵蓋的多種類型樣品的制樣工藝。
回收率證明在制樣程序中，待測元素并未出現(xiàn)明顯的流失和污染。
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ICP-OES；微波制樣；RoHS
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