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                                掃描型近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
                                英文名稱:總訪問:14923
                                國產(chǎn)/進(jìn)口:進(jìn)口半年訪問:642
                                產(chǎn)地/品牌:日本/JASCO產(chǎn)品類別:其他顯微系統(tǒng)
                                型       號(hào):NFS 最后更新:2024-12-26
                                貨       號(hào):
                                參考報(bào)價(jià):
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                                • 產(chǎn)品介紹
                                • 公司簡介

                                掃描型近場(chǎng)光學(xué)顯微分光系統(tǒng)NFS series

                                 

                                 

                                 

                                 

                                簡介

                                日本分光株式會(huì)社生產(chǎn)的可以分光測(cè)定的掃描型近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡NFS系列,世界一流。這臺(tái)裝置能在10-100nm左右的空間分解力進(jìn)行顯微分光測(cè)量。能在微小的領(lǐng)域觀測(cè)光譜強(qiáng)度變化以及波峰變換可更好的對(duì)物質(zhì)特性描述。

                                 

                                特征

                                   * 世界第一臺(tái)一體化掃描型近接場(chǎng)光學(xué)分光顯微鏡
                                   * 數(shù)十~百nm高空間分辨率測(cè)量顯微分光。
                                   * 使用日本分光制的探頭可準(zhǔn)確使用特定大小的近接場(chǎng)光。
                                   * 可同時(shí)測(cè)量樣品表面微小的凹凸形狀。和原子力顯微鏡(AFM)類似的用法。
                                   * illumination(透過)、collection、 illumination-collection測(cè)量方式。

                                 

                                近場(chǎng)光學(xué)顯微分光裝置

                                對(duì)于微小領(lǐng)域的表征方法有利用電子線的電子顯微鏡形態(tài)觀察、 X線微分析儀,掃描型探頭電鏡表面形狀觀察。這些分析方法可以得到高空間分辨率的畫像、但是得不到樣品表面的化學(xué)信息。另外,雖然、顯微FT/IR分光、顯微光激發(fā)光分光、顯微拉曼光等可以得到表面化學(xué)信息,但是因?yàn)榭臻g分辨率有限度、所得到的信息也停留在微米量級(jí)。原因是光的衍射是有限度的不能超過使用波長范圍。

                                 

                                新開發(fā)光纖制作技術(shù)

                                NFS系列光纖前端約為數(shù)十~百nm開口的探頭用于近接場(chǎng)光產(chǎn)生或者近接場(chǎng)光集光。日本分光的開口技術(shù)以神奈川科學(xué)技術(shù)科學(xué)院(KAST)的研究成果基礎(chǔ)上開發(fā)的、特定尺寸的開口,再現(xiàn)性好。開口的尺寸用電子顯微鏡高度的控制。

                                 

                                NFS series產(chǎn)品種類豐富

                                主要有以下種類:

                                   * 室溫型/低溫型 近接場(chǎng)光照射裝置(NFS-220/320)
                                   * 室溫型/低溫型近接場(chǎng)用掃描裝置(NFS-210/310)
                                   * 室溫型/低溫型 近接場(chǎng)蛍光/光激發(fā)光分光裝置(NFS-230/330)
                                   * 近接場(chǎng)顯微鏡近紅外分光裝置(NFS-220FT/320FT)
                                   * 近接場(chǎng)顯微紅外分光裝置(NFIR-200/250)
                                   * 近接場(chǎng)納米碳素管評(píng)價(jià)裝置(NFS-230C/330C、特殊定制)
                                   * 近接場(chǎng)時(shí)間分解分光裝置(NFS-230TR/330TR、特殊定制)

                                 

                                NFIR-200/250 近場(chǎng)顯微紅外分光系統(tǒng)

                                紅外分光法代表的振動(dòng)分光法、不論有機(jī)・無機(jī)應(yīng)用于各種分析領(lǐng)域。但是,現(xiàn)有的紅外顯微分光系統(tǒng)空間分辨率受光的衍射現(xiàn)象的影響,限度為10μm左右。近接場(chǎng)分光法、可以超過這個(gè)衍射限度、可見光區(qū)域應(yīng)用于從亞微細(xì)米到納米規(guī)模的光分析,紅外區(qū)域由于光纖探頭吸收的原因不能進(jìn)行分光分析。紅外領(lǐng)域通過采用漫反射型近接場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)、實(shí)現(xiàn)了從近紅外到中紅外領(lǐng)域的亞微細(xì)米空間分辨率的分光測(cè)量。通過照射到探頭前端的紅外光產(chǎn)生紅外近接場(chǎng)光、檢測(cè)近接場(chǎng)光和樣品共鳴漫反射結(jié)果信號(hào)、測(cè)量紅外近接場(chǎng)光譜?臻g分辨率不受紅外波長影響、由探頭前端產(chǎn)生近接場(chǎng)光的實(shí)際尺寸決定、大約探頭前端徑大小。因此,紅外分廣發(fā)可用于亞微細(xì)米以下領(lǐng)域測(cè)量。

                                 

                                特征
                                   * 漫反射型近接場(chǎng)光學(xué)裝置可除去光纖探頭吸收的影響。
                                   * 環(huán)保配置。
                                   * NFIR-250的FT部裝有大型測(cè)量用的樣品室,可對(duì)應(yīng)一般的紅外測(cè)量。

                                 

                                NFIR-200/250規(guī)格 

                                機(jī)種

                                NFIR-200/250

                                測(cè)量方式

                                雜散光測(cè)量方式、光學(xué)調(diào)整方式、探頭位置調(diào)整方式

                                檢測(cè)器

                                設(shè)置數(shù)量:最大2種
                                標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器:液體氮?dú)饫鋮sMCT檢測(cè)器
                                選項(xiàng)檢測(cè)器:液體氮?dú)饫鋮sInSb檢測(cè)器
                                切換方式:電動(dòng)

                                樣品臺(tái)范圍

                                豎×橫20×20μm、高16μm

                                傅里葉變換型分光系統(tǒng)

                                測(cè)量波長范圍:4000~1000 cm-1 (MCT使用時(shí))
                                 5000~2000 cm-1 (InSb使用時(shí))
                                分辨率:400px-1
                                干渉計(jì):45°入射邁克爾遜干渉計(jì)
                                分速器:Ge/KBr

                                微型樣品室

                                裝備(NFIR-250)

                                控制用PC

                                OS:Windows XP、通信:16bit AD/DA板、

                                軟件

                                反饋信號(hào)顯示器及映射測(cè)量軟件
                                 3次元表示軟件、探頭觀察用CCD畫像表示軟件
                                映射解析軟件、光譜解析軟件

                                尺寸・重量

                                W1000 x D900 x H1300 mm、280kg(NFIR-200、含防振臺(tái))
                                 W1600 x D750 x H1300 mm、300kg(NFIR-250、含防振臺(tái))

                                電源

                                AC100V±10% 250VA(本體)、150VA(FT)、100VA(PC)

                                其他必要的工具

                                防振臺(tái)用空氣源:氮?dú)饣蚩諝庠础?.3~0.8MPa

                                我們的聯(lián)系方式如下:
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                                公司地址:上海市楊浦區(qū)隆昌路619號(hào)8號(hào)樓

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