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探知未來
原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。
新開發(fā)的可快速響應的HT掃描器加之軟件與控制系統(tǒng)設計的優(yōu)化，成功實現(xiàn)掃描速度比傳統(tǒng)設備快5倍以上。
獨具匠心的探針更換夾具，讓小心翼翼的探針更換操作變得簡捷輕松。
樣品交換時也可保持激光穩(wěn)定照射懸臂。照射穩(wěn)定性優(yōu)異，分析時間也大幅度縮短。
可從不同角度放大拉伸圖像進行確認。鼠標操作簡單，更可進行3D斷面形狀分析。
按照操作指南指導操作順序，使用導航功能直接鎖定觀察位置，實現(xiàn)了SPM的快速簡便的觀察
具備豐富的測定模式和優(yōu)異的擴展性，可對不同硬度、不同導電性能等各式樣品進行觀察分析。
控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM
可以控制樣品和周邊環(huán)境，在可控氣氛下進行樣品處理，并直接進行SPM觀察。
選配系統(tǒng)具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。
粒度分析軟件
從圖像數(shù)據中選取復數(shù)顆粒，對每一顆粒進行特征量的計算，并進行分析、顯示，以及及進行統(tǒng)計處理。
超微小硬度計復合型SPM系統(tǒng)SPM+TriboScope（TriboScope為美國Hysitron公司產品） 可以進行極薄膜的硬度試驗和壓痕試驗。 微小部熱分析試驗儀器復合型SPM系統(tǒng) SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產品）可以進行樣品表面的三維形貌觀察和點的熱分析。
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