光學(xué)成像核心設(shè)備：

Trifoil InSyTe FLECT/CT（含CT功能的3D近紅外斷層掃描光學(xué)成像系統(tǒng)）

3D 近紅外（NIR）斷層掃描光學(xué)成像系統(tǒng)是一種創(chuàng)新的設(shè)備，可在單個(gè)平臺(tái)上提供具有高質(zhì)量解剖學(xué)參考的3D NIR光學(xué)圖像�；�于熒光發(fā)射斷層掃描（FLECT）技術(shù)的InSyTe平臺(tái)為臨床前小型動(dòng)物模型的全身成像和活體表征提供了無(wú)與倫比的功能。通過(guò)采用同軸一體化的設(shè)計(jì)，將FLECT和X射線CT這兩種3D成像單元集成到同一臺(tái)設(shè)備中；利用已獲專利認(rèn)證的旋轉(zhuǎn)式機(jī)架設(shè)計(jì)，來(lái)收集得到實(shí)驗(yàn)動(dòng)物周身360°范圍內(nèi)的光學(xué)與X射線投影；NIR探針與激光激發(fā)結(jié)合使用，可進(jìn)一步提高3D數(shù)據(jù)采集的靈敏度（達(dá)到pM級(jí)別）和精確度，尤其適用于利用熒光成像手段檢測(cè)低劑量和深層組織信號(hào)的實(shí)驗(yàn)；強(qiáng)大的圖像重建算法利用分段的X射線CT數(shù)據(jù)，評(píng)估動(dòng)物體內(nèi)光學(xué)特性的變化，并提供準(zhǔn)確的重建可視化效果。
 

Figure1. InSyTe FLECT/CT系統(tǒng)掃描原理示意圖及外觀圖
 

Figure2. 注射NIR探針后的小鼠掃描圖像

當(dāng)研究需要超越傳統(tǒng)的光學(xué)成像技術(shù)手段時(shí)，研究人員可以嘗試采用InSyTe FLECT/CT設(shè)備來(lái)獲取更加清晰直觀的圖像數(shù)據(jù)。

若您想要了解更多關(guān)于 FLECT/CT系統(tǒng)的內(nèi)容，或預(yù)約使用FLECT/CT設(shè)備進(jìn)行相關(guān)實(shí)驗(yàn)，歡迎您通過(guò)以下方式聯(lián)系我們：

孫元元（技術(shù)支持）
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周慧敏（成像應(yīng)用工程師）
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