顯微鏡 | 反射LED照明,右手控制的機械x-y載物臺,物鏡10×/20×/40×/50×/100×(選配),進口正置型顯微鏡 | |||
掃描模塊 | 掃描模式:振鏡掃描,分辨率:<0.02um,掃描區(qū)域:200um×200um(40x物鏡下) | |||
激光器 | 532nm(最大100mW,可調DPSS激光器) | |||
濾波器 | 低波數(shù)低至70cm-1 | |||
光譜儀 |
焦長 | 35mm | ||
光譜范圍 | 最大8150cm-1 | |||
光譜分辨率 | 低至3個波數(shù) | |||
檢測器 | TE制冷CCD,1932×1452pixels,4.54um width | |||
光柵 |
光柵刻線 | 光譜范圍 | 分辨率 | |
2400lpmm | 70~2340cm-1 | 3cm-1 | ||
1800lpmm | 70~3400cm-1 | 4.4cm-1 | ||
1200lpmm | 70~5000cm-1 | 6.4cm-1 | ||
600lpmm | 70~8150cm-1 | 9.8cm-1 | ||
其他選配項 |
ND功率控制衰減片 光電流源表、探針臺實現(xiàn)光電流mapping 偏振控制 |
測試項目 | 測試內容 | 測試條件 | 激發(fā)波長 | 探測器水平 |
拉曼測試 |
拉曼光譜、二維拉曼成像 |
成像范圍:200um×200um(40×物鏡下),空間分辨率:<0.02um, |
激發(fā)波長:532nm/785nm,光譜分辨率:0.12nm | 2000 × 256 pixels, 15 μm 像素寬度 (iVAC316, Andor) |
PL測試 |
PL光譜、PL二維成像 |
激發(fā)波長:405nm/532nm | ||
TCSPC測試 | 瞬態(tài)熒光壽命曲線、二維熒光壽命成像 | 激發(fā)波長:405nm | 系統(tǒng)響應度:<200ps 測量范圍12.5ns-32us |
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光電流測試 |
I-V曲線、I-t曲線、二維光電流成像 |
激發(fā)波長:405nm,532nm,785nm | Semishare高精度探針臺 Keithley2400源表 最大電壓源/量程:200v 測量分辨率:1pA/100nV |
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