飛納電鏡展位號:B047
我們誠邀您與飛納電鏡一起參加中國國際粉末冶金及硬質(zhì)合金展覽會,探討最新的臺式掃描電鏡技術(shù)與行業(yè)解決方案。
1. Phenom ParticleX 全自動(dòng)掃描電鏡
—— 顆粒分析及過程控制的工業(yè)級解決方案
粉末的尺寸、形狀和化學(xué)性能對于粉末床的行成、熔池和微觀均質(zhì)性可能會產(chǎn)生重大影響。ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ),可以全自動(dòng)對大量粉末顆粒進(jìn)行快速識別、分析和分類統(tǒng)計(jì),為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
Ti64 粉末 球形顆粒、衛(wèi)星球顆粒和變形 / 團(tuán)聚顆粒
用 ParticleX 對兩批次的 Ti64 粉末顆粒粒度進(jìn)行統(tǒng)計(jì),獲得粒度分布。并按照設(shè)定好的形態(tài)規(guī)則識別顆粒類型,分離出每種形態(tài)類型顆粒的粒徑體積分布。
快捷,出眾,可靠的電鏡成像分析設(shè)備,最佳臺式掃描電子顯微鏡,創(chuàng)新型用戶使用界面,直觀的操作方式,高分辨率背散射電子成像,EDS 能譜一體化設(shè)計(jì)。高性價(jià)比、操作簡便、快速成像的飛納臺式掃描電鏡成為工程師,技術(shù)員,研究員以及科教專家觀測微米以及納米結(jié)構(gòu)的首選。
規(guī)格參數(shù)
· 放大倍數(shù):350,000 X
· 分辨率:優(yōu)于 6 nm
· 燈絲材料:1,500 小時(shí) CeB6 燈絲
· 抽真空時(shí)間:小于 15 秒
· 探測器:背散射電子探測器(選配二次電子),能譜探測器